Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS

Совин Я.Р., Наконечний Ю.М., Стахів М.Ю.
Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS

Вид документа: Стаття періодичного видання
Рiк видання: 2013
Автор: Совин Я.Р., Наконечний Ю.М., Стахів М.Ю. Авторський знак: С54 Вид автора: персона
Мова: Українська Обсяг: С.37-44
Шифр: 621.382 УДК: 004.056

Аннотацiя:

генератори випадкових чисел, тести NIST STS, STM32F4xx

Є складовою частиною документа: Вісник Національного університету "Львівська Політехніка"