ЖДТУ Бібліотека Електронний каталог
 
Глудкин О.П., Черняев В.Н.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем

Вид документа: Книга
Рiк видання: 1980 Мiсце видання: М. Видавництво: Энергия
Автор: Глудкин О.П., Черняев В.Н. Авторський знак: Г55 Вид автора: персона
Мова: Російська Обсяг: 360с.
Шифр: 621.396.6(07) УДК: 621.396.6(07)

Примірники
Місце збереження Кількість Видано
Абонемент 1 0

Карта Сайту

© Житомирський державний технологiчний університет