Використання методики вторинно-іонної мас-спектрометрії для кількісного елементного аналізу аморфних металевих сплавів складного складу

Сидоренко С.І.
Використання методики вторинно-іонної мас-спектрометрії для кількісного елементного аналізу аморфних металевих сплавів складного складу

Вид документа: Стаття періодичного видання
Автор: Сидоренко С.І. Авторський знак: С34 Вид автора: персона
Мова: Українська Обсяг: с.88
Шифр: 537.534.8+532 УДК: 537.534.8+532
Є складовою частиною документа: Наукові вісті