ЖДТУ Бібліотека Електронний каталог
 
Романов В.
Количественная оценка надёжности интегральных микросхем с учётом математической модели отказов

Вид документа: Стаття періодичного видання
Автор: Романов В. Авторський знак: Р69 Вид автора: персона
Мова: Російська Обсяг: с.4
Шифр: 621.38 УДК: 621.38
Є складовою частиною документа: Электронные компоненты и системы
Карта Сайту

© Житомирський державний технологiчний університет