Improving metrological characteristics of measuring instruments by discrete wavelet noise filtering using the recursion method

Onufrienko D., Taranenko Yu., Suchkov G.
Improving metrological characteristics of measuring instruments by discrete wavelet noise filtering using the recursion method

Вид документа: Стаття періодичного видання
Рiк видання: 2022
Автор: Onufrienko D., Taranenko Yu., Suchkov G. Вид автора: персона
Мова: Англійська Обсяг: С.15-20
Шифр: 006.91 УДК: 006.91

Аннотацiя:

recursive algorithm; RMS error; numerical optimization; model signal; discrete wavelet transform; noise filtering; decomposition level

Є складовою частиною документа: Український метрологічний журнал