ЖДТУ Бібліотека Електронний каталог

Ковальчук В. В., Сморж М. В. Метрологія реальних нанокластерів: структура та оптичні характеристики Вид документа: Стаття періодичного видання Рiк видання: 2020 Автор: Ковальчук В. В., Сморж М. В. Вид автора: персона Мова: Українська Обсяг: С.54-59 Шифр: 389 УДК: 389 Аннотацiя: законодавчо регульовані засоби вимірювальної техніки, законодавча регульована метрологія Є складовою частиною документа: Метрологія та прилади

Карта Сайту © Житомирський державний технологiчний університет