Оптимізований метод вимірювання позитронних анігіляційних спектрів у наноматеріалах з розвиненою поруватістю для сенсорних застосувань

Клим Г., Костів Ю., Чалий Д., Івануса А., Ткачук Т.
Оптимізований метод вимірювання позитронних анігіляційних спектрів у наноматеріалах з розвиненою поруватістю для сенсорних застосувань

Вид документа: Стаття періодичного видання
Рiк видання: 2016
Автор: Клим Г., Костів Ю., Чалий Д., Івануса А., Ткачук Т. Вид автора: персона
Мова: Українська Обсяг: С.87-93
Шифр: 620.17 УДК: 620.17

Аннотацiя:

позитронна анігіляційна спектроскопія, метод дослідження структури, сенсорна кераміка

Є складовою частиною документа: Вимірювальна техніка та метрологія